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對(duì)于出廠的LED模塊（即LED顯示模組），需要進(jìn)行各個(gè)方面的性能測試，為了檢測OLED模組在高低溫環(huán)境下的工作性能，一般需要對(duì)LED模組進(jìn)行快速溫變測試。下面是
LED模組的快速升降溫試驗(yàn)需要使用LED模組快速升降溫試驗(yàn)箱，試驗(yàn)過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍
LED快速溫變?cè)囼?yàn)系統(tǒng)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個(gè)循環(huán)，
led濕熱可靠性試驗(yàn)箱可以建立穩(wěn)定的測試環(huán)境，通過濕熱加速測試，用以測試LED的老化性能。同時(shí)，濕熱加速測試設(shè)備以簡單有效的促進(jìn)濕熱加速測試的標(biāo)準(zhǔn)化，避免在各種
熱濕老化試驗(yàn)是利用高溫高濕雙應(yīng)力對(duì)LED燈具進(jìn)行加速老化，推算出產(chǎn)品在該條件下的的壽命，并得出不同熱濕條件的可靠性和壽命。試驗(yàn)中采用led模組恒溫恒濕試驗(yàn)箱，在
LED的理論壽命超過lO萬小時(shí)，在實(shí)際使用中，大電流、高溫和高濕等都會(huì)產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗(yàn)箱對(duì)其進(jìn)行老化
由于 LED 技術(shù)的飛速發(fā)展，新結(jié)構(gòu)、新工藝層出不窮，LED 的可靠性問題仍然十分突出。LED 的壽命與器件工藝和工作條件有著密切的關(guān)系 ，針對(duì) LED 在大電
對(duì)于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應(yīng)力 (如高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力等) 的方法對(duì)樣品進(jìn)行加速老化 ，這樣可在短時(shí)間內(nèi)得到樣品失效信息并對(duì)其可靠性進(jìn)行分
