led高溫壽命老化系統(tǒng)主要用于led的高溫老化實驗驗證，由于LED使用的環(huán)境和條件各不相同，因此LED燈珠在封裝完成后，都需要進行可靠性實驗來驗證其性能能否具備，在評估LED燈珠性能時，壽命測試是其重要的環(huán)節(jié)。
技術參數(shù)：
老化原理：
1.將焊接好的LED燈珠焊接到PCB基座上，然后用導線將多個PCB基座串聯(lián)或并聯(lián)在一起，然后通上額定電壓并置于led高溫壽命老化系統(tǒng)中，如下圖所示。
2.設定一定的溫度，讓其進行高溫燈珠老化。
3.老化到相應時間后，查看是否有死燈情況，并對老化后的每顆LED燈珠進行光通量、色溫、電壓等參數(shù)的測量，對比測試數(shù)據(jù)來評估LED燈珠性能的好壞。
實驗方法：
1.北美體系
LM-80 和TM-21兩個標準的要求總結如下：
適用范圍：LED封裝、模塊、陣列等;
考察對象：只考察光通維持壽命，即緩變失效因素
老化溫度：指定點殼溫(Ts)為55℃，85℃和第三個指定溫度，三個溫度覆蓋燈具中LED光源的Ts溫度。
老化時間：6000h，推薦10000h;
2.IEC體系
IEC體系中用Lx Fy 來表征LED產(chǎn)品的壽命，其中，Lx表示光通量維持率，如L70;Fy表示失效率，包括緩變失效率By和瞬變失效率Cy。例如：L70F50為30000h是指：50%的模塊在30000h后的光通維持率在70%以下。
對于普通照明用的白光LED產(chǎn)品，IEC并不強調對聲稱的壽命進行驗證，而是對限定時間的流明維持率進行分級。
如有l(wèi)ed高溫壽命老化系統(tǒng)的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
