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LED快速溫變試驗(yàn)系統(tǒng)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個(gè)循環(huán)，
led濕熱可靠性試驗(yàn)箱可以建立穩(wěn)定的測試環(huán)境，通過濕熱加速測試，用以測試LED的老化性能。同時(shí)，濕熱加速測試設(shè)備以簡單有效的促進(jìn)濕熱加速測試的標(biāo)準(zhǔn)化，避免在各種
熱濕老化試驗(yàn)是利用高溫高濕雙應(yīng)力對LED燈具進(jìn)行加速老化，推算出產(chǎn)品在該條件下的的壽命，并得出不同熱濕條件的可靠性和壽命。試驗(yàn)中采用led模組恒溫恒濕試驗(yàn)箱，在
LED的理論壽命超過lO萬小時(shí)，在實(shí)際使用中，大電流、高溫和高濕等都會(huì)產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗(yàn)箱對其進(jìn)行老化
由于 LED 技術(shù)的飛速發(fā)展，新結(jié)構(gòu)、新工藝層出不窮，LED 的可靠性問題仍然十分突出。LED 的壽命與器件工藝和工作條件有著密切的關(guān)系 ，針對 LED 在大電
對于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應(yīng)力 (如高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力等) 的方法對樣品進(jìn)行加速老化 ，這樣可在短時(shí)間內(nèi)得到樣品失效信息并對其可靠性進(jìn)行分
LED模塊溫濕度加速老化試驗(yàn)箱是用于測試LED（發(fā)光二極管）在高低溫濕熱條件下的性能的設(shè)備。LED在不同環(huán)境下受到影響，試驗(yàn)箱可以模擬自然界中的濕熱環(huán)境，評(píng)估L
目前 LED 產(chǎn)品擁有幾萬小時(shí)的壽命，無法短時(shí)間內(nèi)發(fā)生老化失效現(xiàn)象，因此為了研究 LED 產(chǎn)品老化機(jī)理，我們將 LED 產(chǎn)品放置于高溫高濕的環(huán)境下通過加速老化的
