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電子產品測試用模擬高原低氣壓試驗箱

時間:2023-03-16 14:07:51 作者:環(huán)儀小編 點擊:

電子產品的低氣壓試驗,滿足《GB∕T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》標準,電子產品的低氣壓試驗的目的是用于確定元件、設備或其他產品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應性。


試驗設備:模擬高原低氣壓試驗箱

設備型號:環(huán)儀儀器 HYLA-1000

滿足標準:GB∕T 2423.21-2008

電子產品測試用模擬高原低氣壓試驗箱(圖1)


試驗程序:

1. 試驗箱(室)內的溫度應符合規(guī)定的試驗標準大氣條件溫度范圍。如果不需要在運行狀態(tài)下進行試驗,樣品應處于未包裝、未通電、“準備使用”狀態(tài),按照其正常位置(除非有其他規(guī)定)放入試驗箱(室)內。

2.將試驗箱(室)內的氣壓降低到符合規(guī)定嚴酷等級的值,如果需要,相關規(guī)范可以規(guī)定氣壓變化速度不超過10 kPa/min。
3.如果要求在運行狀態(tài)下進行試驗,樣品應通電或加電氣負載,并檢查確定試驗樣品是否能滿足相關規(guī)范規(guī)定的功能。試驗樣品可以按規(guī)定的持續(xù)時間保持在運行狀態(tài),或按照相關規(guī)范的要求斷開電源。如果相關規(guī)范要求進行中間檢測,則應進行中間檢測。對于散熱試驗樣品,相關規(guī)范可以要求在降低氣壓之前或之后對試驗樣品通電足夠長的時間,使其達到熱穩(wěn)定,并進行功能試驗和/或檢測。

4.氣壓應保持規(guī)定的持續(xù)時間。

5.恢復氣壓到常壓時,如果相關規(guī)范有要求,則氣壓變化的速度應不超過10 kPa/min。


如有模擬高原低氣壓試驗箱使用疑問,可以咨詢“環(huán)儀儀器”。


標簽: 模擬高原低氣壓試驗箱

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